[发明专利]绝缘子污秽成分高光谱识别方法在审
| 申请号： | 202010122812.9 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111257242A | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 任明;夏昌杰;王彬;董明;徐广昊;谢佳成;张崇兴;王思云;段然;郭晨希;马馨逸 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 覃婧婵 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种绝缘子污秽成分高光谱识别方法，方法包括以下步骤：绝缘子人工污秽模拟检测；获取不同样品的高光谱图像，选取第一类污秽区域作为感性区域ROI，以感性区域ROI反射率光谱为输入量主成分分析，计算前三主成分的载荷因子，代入样品集光谱，计算得到前三主成分得分并构造得到不同污秽成分的三维分布特征空间；获取待测样品高光谱图像以提取样品表面光谱，分别代入不同污秽成分的主成分得分计算公式，得到待测样品前三主成分得分；分别对待测样品前三主成分得分和三维分布特征空间聚类分析，根据聚类结果实现污秽成分识别。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘子 污秽 成分 光谱 识别 方法 | ||
【主权项】：
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