[发明专利]非接触姿态测量方法以及存储介质有效
| 申请号： | 202010093750.3 | 申请日： | 2020-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN111238438B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 杨君;徐唐进;习先强;孙化龙 | 申请（专利权）人： | 天津时空经纬测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00;G01B11/27 |
| 代理公司： | 北京万思博知识产权代理有限公司 11694 | 代理人： | 刘冀 |
| 地址： | 300380 天津市西青区中*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种非接触姿态测量方法、装置以及存储介质，用于对被测物体的姿态进行测量。其中，非接触姿态测量方法包括：获取第一光学准直装置(10)与被测物体的第一测量面(S1)之间的第一角度偏差信息，其中第一角度偏差信息用于指示第一光学准直装置(10)的轴线与第一测量面(S1)的法线之间的角度偏差；获取与第一光学准直装置(10)的姿态相关的第一测量信息；以及根据第一角度偏差信息以及第一测量信息，确定被测物体的第一姿态信息。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 姿态 测量方法 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津时空经纬测控技术有限公司，未经天津时空经纬测控技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010093750.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于红外感应技术的双轴测距定位方法
- 下一篇：角度偏差测量系统
