[发明专利]带电粒子束描绘装置及带电粒子束描绘方法有效

专利信息
申请号: 202010082219.6 申请日: 2020-02-07
公开(公告)号: CN111552150B 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 中山贵仁;安部勇仁 申请(专利权)人: 纽富来科技股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘英华
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及带电粒子束描绘装置及带电粒子束描绘方法。本发明的一个形态的带电粒子束描绘装置具备:描绘部,使用带电粒子束,对基板的表面描绘图案;测定部,测定上述基板的中央部的多个部位的表面高度;制作部,用第1多项式对上述测定部的测定值进行拟合,通过使用了该第1多项式的外推插值,计算上述基板的周缘部的表面高度的第1高度分布,用比该第1多项式高次的第2多项式对该测定值进行拟合,通过使用了该第2多项式的内插插值,计算上述中央部的表面高度的第2高度分布,将该第1高度分布与该第2高度分布结合,制作该基板的高度分布;控制部,基于根据上述基板的高度分布计算出的描绘位置的表面高度,调整上述带电粒子束的焦点位置。
搜索关键词: 带电 粒子束 描绘 装置 方法
【主权项】:
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