[发明专利]一种芯片的自动测试方法、装置和系统在审
| 申请号： | 202010069965.1 | 申请日： | 2020-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN111273153A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 王锐;李建军;汪江剑;陆思茗 | 申请（专利权）人： | 广芯微电子（广州）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郭浩辉;麦小婵 |
| 地址： | 510000 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的自动测试方法，包括步骤：当检测到芯片固件设备接入时，判断所述芯片固件设备是否已连接待测芯片；当判定所述芯片固件设备已连接待测芯片时，向所述芯片固件设备发送自动测试数据，以使所述芯片固件设备接收所述自动测试数据并启动自动测试程序；发送测试指令至所述芯片固件设备，以使所述芯片固件设备对所述待测芯片进行模块功能测试；并根据所述芯片固件设备返回的测试响应，生成自动测试结果。本发明还公开了对应的自动测试装置和系统。采用本发明实施例，能自动实现对芯片模块的功能测试，有效提高了芯片测试的效率，节约了人力资源和时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 自动 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广芯微电子（广州）股份有限公司，未经广芯微电子（广州）股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010069965.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种生成个人日历的方法和装置
- 下一篇：基于度量学习的菜品识别方法及装置
