[发明专利]布局图形的矫正方法及系统、掩膜版、设备、存储介质有效
申请号: | 202010046509.5 | 申请日: | 2020-01-16 |
公开(公告)号: | CN113126421B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | 杜杳隽;刘庆炜 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36;G03F1/84;G03F1/70 |
代理公司: | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 高静 |
地址: | 300380 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种布局图形的矫正方法及系统、掩膜版、设备、存储介质,矫正方法用于在确定掩膜基底后,实现光学邻近修正前的预矫正,包括:提供原始版图,包括与掩膜基底相对应的布局图形,并确定布局图形对应于掩膜基底上的位置作为第一初始位置,布局图形所在的区域为图形区,剩余区域为遮挡区;对掩膜基底进行检测,获取掩膜基底上的缺陷点并确定缺陷点在掩膜基底上的位置为第二初始位置;获取缺陷点的第一偏移矢量,第一偏移矢量适于使缺陷点由第二初始位置移动至任一遮挡区;计算第一偏移矢量的负矢量为第二偏移矢量;根据第二偏移矢量移动布局图形,使布局图形对应于掩膜基底上的位置由第一初始位置变更为优化后位置。本发明提高光刻图形的精度。 | ||
搜索关键词: | 布局 图形 矫正 方法 系统 掩膜版 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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