[发明专利]用故障使能生成电路测试存储器安全逻辑电路内的比较器在审
| 申请号： | 202010015180.6 | 申请日： | 2020-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN111415698A | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | R·布哈辛;S·库马尔;T·罗伊;D·K·比哈尼 | 申请（专利权）人： | 意法半导体国际有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 荷兰斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的各实施例涉及用故障使能生成电路测试存储器安全逻辑电路内的比较器。解码器，对存储器地址进行解码并选择性地驱动存储器的选择线(诸如字线或mux线)。解码电路，对选择线上的数据进行编码以生成编码地址。编码地址和存储器地址由比较电路进行比较，以生成指示解码器是否正常操作的测试结果信号。为了测试比较电路正常操作，MBIST扫描例程的子集使编码地址从比较电路被阻塞，并且使强制信号应用在其位置中。来自扫描例程的测试信号和强制信号然后由比较电路进行比较，其中由比较电路生成的测试结果信号指示比较电路本身是否正常操作。 | ||
| 搜索关键词： | 故障 生成 电路 测试 存储器 安全 逻辑电路 比较 | ||
【主权项】：
暂无信息
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