[发明专利]触控检测方法、电子设备及检测芯片在审
| 申请号： | 202010014391.8 | 申请日： | 2020-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN113157121A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 银国超 | 申请（专利权）人： | 深圳市汇顶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 518045 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种触控检测方法、电子设备、检测芯片及存储介质，触控检测方法包括：在电容式传感器的初始采样值大于或等于采样开始阈值时，检测电容式传感器的采样值从采样开始阈值到采样结束阈值之间的变化参数；对于变化参数在预设范围内的采样确定为无效采样，将其他物品所引起的干扰信号判定为无效采样，提高了检测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 电子设备 芯片 | ||
【主权项】：
暂无信息
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