[实用新型]一种芯片测试装置有效
| 申请号： | 201920173625.6 | 申请日： | 2019-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN209486249U | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 陈兵录 | 申请（专利权）人： | 苏州能讯高能半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 215300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试装置，涉及半导体测试技术领域。该芯片测试装置包括机架、承载台、托盘、驱动机构及测试机构，承载台设置于机架上；托盘设置于承载台上，托盘上设置有多个与芯片的形状及大小相适配的定位槽；驱动机构与承载台连接，驱动机构被配置为驱动承载台平移及升降；测试机构设置于机架上并位于承载台的上方，测试机构被配置为测试定位槽内的芯片。测试芯片时，芯片可以通过吸笔放在定位槽内，无需镊子调整芯片的位置，芯片的定位精度高；芯片在测试过程中位置不会移动，避免芯片划伤，保证测试准确；驱动机构能够驱动承载台移动，从而使多个定位槽的芯片依次进行测试，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 承载台 芯片 驱动机构 定位槽 芯片测试装置 托盘 测试机构 测试 半导体测试 本实用新型 定位精度高 驱动 测试过程 测试效率 测试芯片 镊子 平移 移动 划伤 适配 吸笔 配置 升降 承载 保证 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，包括机架，其特征在于，所述芯片测试装置还包括：承载台(1)，所述承载台(1)设置于所述机架上；托盘(2)，所述托盘(2)设置于所述承载台(1)上，所述托盘(2)上设置有多个与芯片的形状及大小相适配的定位槽(21)；驱动机构(3)，所述驱动机构(3)与所述承载台(1)连接，所述驱动机构(3)被配置为驱动所述承载台(1)平移及升降；及测试机构，所述测试机构设置于所述机架上并位于所述承载台(1)的上方，所述测试机构被配置为测试所述定位槽(21)内的芯片。
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