[发明专利]一种特征向量比对方法、装置电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 201911365035.4 | 申请日： | 2019-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN111160218A | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 张宏;李永配;潘武;王标荣;李浙伟;陆振善 | 申请（专利权）人： | 浙江大华技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 赵凯莉 |
| 地址： | 310053 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种特征向量比对方法、装置电子设备及存储介质，由于在本发明实施例中，电子设备确定待比对的第一特征向量的第一属性信息，以及特征库中每个第二特征向量的第二属性信息；根据特征向量的属性信息对特征库中的特征向量进行筛选，将与第一属性信息相同的第二属性信息对应的第二特征向量作为候选特征向量，然后将第一特征向量与每个候选特征向量进行比对得到目标特征向量。本发明实施例根据特征向量的属性信息对特征库中的特征向量进行筛选，使得参与特征向量比对的特征向量数量较少，因此比对效率较高，并且可以保证得到的目标特征向量与待比对的第一特征向量的属性信息是相同的，提高了特征向量比对的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 特征向量 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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