[发明专利]一种低温漂欠压锁定电路在审

专利信息
申请号: 201911019145.5 申请日: 2019-10-24
公开(公告)号: CN110867826A 公开(公告)日: 2020-03-06
发明(设计)人: 张小琴;曾传滨;蔡小五;赵海涛;刘海南;罗家俊 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H02H3/24 分类号: H02H3/24;H02H1/00
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 房德权
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于模拟集成电路技术领域,公开了一种低温漂欠压锁定电路,包括:采样电路,对电源电压进行采样后输出采样电压信号;带隙基准电路,产生带隙基准电压并接收所述采样电压信号;电流镜电路,镜像所述带隙基准电路的两条支路的电流并比较所述采样电压信号和带隙基准电压输出比较信号;输出缓冲电路,接收并放大整形所述比较信号。本发明提供的低温漂欠压锁定电路结构简单,占用面积小,功耗低还具有温度漂移小的优点。
搜索关键词: 一种 低温 漂欠压 锁定 电路
【主权项】:
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