[发明专利]一种具有复合栅结构的IGBT芯片及其加工工艺与加工设备在审
申请号: | 201910872743.0 | 申请日: | 2019-09-16 |
公开(公告)号: | CN110517988A | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
发明(设计)人: | 王全;杨其峰;邹有彪;倪侠;徐玉豹;沈春福;王超 | 申请(专利权)人: | 富芯微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/8224 | 分类号: | H01L21/8224;H01L27/082;H01L29/423;H01L21/67;H01J37/32 |
代理公司: | 34160 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 韩立峰<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 230001 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开一种具有复合栅结构的IGBT芯片及其加工工艺与加工设备,涉及半导体器件领域。该IGBT芯片由若干个六角形的元胞组成,元胞呈蜂窝状分布在晶圆基片上,每个元胞均包括复合栅结构,复合栅结构包括栅极区、位于栅极区两侧的沟槽栅有源区和平面栅有源区;加工工艺包括沉积形成氧化层、刻蚀形成沟槽、注入N型杂质形成N阱区、注入P型杂质形成P阱区、填充多晶硅、刻蚀形成平面栅极与沟槽栅极、刻蚀形成钝化层、注入N型杂质与P型杂质得到P阱区、沉积得到金属层。加工设备用于IGBT芯片原料晶圆基片的限位放置与刻蚀。本发明的IGBT芯片刻蚀加工效率高,提高了耐压性能和使用寿命,反偏阻压和散热能力好。 | ||
搜索关键词: | 刻蚀 复合栅 元胞 加工设备 栅极区 晶圆 源区 沉积 半导体器件领域 蜂窝状分布 沟槽栅极 加工效率 耐压性能 平面栅极 散热能力 使用寿命 钝化层 多晶硅 沟槽栅 金属层 六角形 氧化层 反偏 面栅 限位 填充 | ||
【主权项】:
1.一种具有复合栅结构的IGBT芯片,由若干个六角形的元胞(500)组成,元胞(500)呈蜂窝状分布在晶圆基片(400)上,其特征在于,每个元胞均包括复合栅结构,复合栅结构包括栅极区(100)、位于栅极区(100)两侧的沟槽栅有源区(200)和平面栅有源区(300);/n所述栅极区(100)包括沟槽栅极(110)、平面栅极(120)、氧化层(130)、钝化层(140),沟槽栅有源区(200)和平面栅有源区(300)均包括从下至上分布的N阱区(210)、P阱区(220)、P+掺杂区(230)、N+掺杂扩散区(240);/n所述平面栅极(120)位于栅极区(100)的表面,沟槽栅极(110)位于栅极区(100)向下刻蚀形成的沟槽内,沟槽栅极(110)的数量为若干个且等距分布在平面栅极(120)的底部,其中一个沟槽栅极(110)分布在平面栅极(120)靠内侧的一端;/n所述氧化层(130)设于平面栅极(120)、沟槽栅极(110)与晶圆基片(400)之间,用于隔离平面栅极(120)、沟槽栅极(110)与晶圆基片(400);钝化层(140)覆盖在平面栅极(110)的外表面,用于隔离平面栅极(120)与金属层(150);金属层(150)覆盖在P+掺杂区(230)上;位于平面栅极(120)内侧之间的金属层(150)的表面设有圆弧状的凸起(160)。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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