[发明专利]一种双界面IC卡的测试方法、系统和双界面读写器在审
申请号: | 201910866266.7 | 申请日: | 2019-09-09 |
公开(公告)号: | CN110569950A | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 张汉就;汤中泽;赵莹莹;刘奇;杨海涛;李图兰 | 申请(专利权)人: | 东信和平科技股份有限公司 |
主分类号: | G06K19/07 | 分类号: | G06K19/07;G06K7/10 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高勇 |
地址: | 519060 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请提供一种双界面IC卡的测试方法,包括:接收第一测试要求,确定所述第一测试要求为接触测试或非接触测试;当所述第一测试要求为非接触测试时,关闭双界面读写器的接触界面通讯,延时第一预设时长后,打开非接触界面通讯执行非接触界面案例测试;当所述第一测试要求为接触测试时,关闭双界面读写器的非接触界面通讯,延时第二预设时长后,打开接触界面通讯执行接触界面案例测试。本申请的整个测试过程无须人为干预,实现自动化测试,同时无需人工插拔IC卡以切换接触界面和非接触界面,节省人力成本,大大提升测试执行效率。本申请还提供一种双界面IC卡的测试系统和双界面读写器,具有上述有益效果。 | ||
搜索关键词: | 非接触界面 测试要求 接触界面 读写器 双界面 非接触测试 双界面IC卡 接触测试 通讯执行 预设时长 测试 延时 申请 自动化测试 测试过程 测试系统 测试执行 人力成本 人为干预 插拔 通讯 | ||
【主权项】:
1.一种双界面IC卡的测试方法,其特征在于,包括:/n接收第一测试要求,确定所述第一测试要求为接触测试或非接触测试;/n当所述第一测试要求为非接触测试时,关闭双界面读写器的接触界面通讯,延时第一预设时长后,打开非接触界面通讯执行非接触界面案例测试;/n当所述第一测试要求为接触测试时,关闭双界面读写器的非接触界面通讯,延时第二预设时长后,打开接触界面通讯执行接触界面案例测试。/n
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