[发明专利]测试结构和测试方法在审
| 申请号： | 201910578847.0 | 申请日： | 2019-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN112230112A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 简红;杨晓蕾;王明;任云翔 | 申请（专利权）人： | 中电海康集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 赵囡囡 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种测试结构和测试方法，其中，该测试结构包括：至少一个待测试器件组，待测试器件组包括多个串联待测试的阻变器件；多个第一开关，第一开关一一对应地与阻变器件并联；至少两个测试电极，待测试器件组的两端分别电连接一个测试电极。解决了现有技术中需要对MTJ等阻变器件逐个进行测试时，导致的测试效率较低的技术难题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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