[发明专利]平整度检测设备、检测件和平整度检测方法在审
申请号: | 201910559643.2 | 申请日: | 2019-06-26 |
公开(公告)号: | CN111272112A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 于子鹏 | 申请(专利权)人: | 深圳市鸿合创新信息技术有限责任公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 深圳市君之泉知识产权代理有限公司 44366 | 代理人: | 吕战竹 |
地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种平整度检测设备、检测件和平整度检测方法。平整度检测设备用于对待测表面进行平整度检测,其包括光网装置和检测件,光网装置用于提供光网,光网由若干条交错的光线构成网状,检测件至少包括抵靠部和遮挡部,抵靠部用于抵靠在待测表面上,遮挡部用于置于光网内,遮挡部构造为,当抵靠部抵靠在待测表面的具有不同平整度的位置时,遮挡部对光线的有效遮挡数量不同。本发明的平整度检测设备、检测件和平整度检测方法,将检测件置于光网中,检测件因检测位置的高度不同,实际遮挡光网中的光线的数量不同,通过遮挡光网中的光线的数量可以得到检测位置的高度,这种平整度的检测设备结构简单,制备成本低,平整度检测方法简单易操作。 | ||
搜索关键词: | 平整 检测 设备 方法 | ||
【主权项】:
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