[发明专利]平整度检测设备、检测件和平整度检测方法在审
申请号: | 201910559643.2 | 申请日: | 2019-06-26 |
公开(公告)号: | CN111272112A | 公开(公告)日: | 2020-06-12 |
发明(设计)人: | 于子鹏 | 申请(专利权)人: | 深圳市鸿合创新信息技术有限责任公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 深圳市君之泉知识产权代理有限公司 44366 | 代理人: | 吕战竹 |
地址: | 518000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平整 检测 设备 方法 | ||
本发明公开一种平整度检测设备、检测件和平整度检测方法。平整度检测设备用于对待测表面进行平整度检测,其包括光网装置和检测件,光网装置用于提供光网,光网由若干条交错的光线构成网状,检测件至少包括抵靠部和遮挡部,抵靠部用于抵靠在待测表面上,遮挡部用于置于光网内,遮挡部构造为,当抵靠部抵靠在待测表面的具有不同平整度的位置时,遮挡部对光线的有效遮挡数量不同。本发明的平整度检测设备、检测件和平整度检测方法,将检测件置于光网中,检测件因检测位置的高度不同,实际遮挡光网中的光线的数量不同,通过遮挡光网中的光线的数量可以得到检测位置的高度,这种平整度的检测设备结构简单,制备成本低,平整度检测方法简单易操作。
技术领域
本发明涉及屏幕质量检测技术领域,尤其涉及一种平整度检测设备、检测件和平整度检测方法。
背景技术
现今,随着科技的发展,电子产品普及度越来越高,尤其是红外触控设备,红外触控设备通过在屏幕的侧边位置设置发射红外线的发射灯和接收红外线的接收器,进而在物体遮挡某些红外线的时候,得到触控位置。
现有技术中,一方面,为了降低成本,增加红外触控设备的竞争力,发射灯和接收器由原来的圆头插件式灯珠更改为扁头插件式灯珠或者扁头贴片式灯珠,灯管的发射功率下降,灯珠内的灯管位置更加靠近玻璃;另一方面,玻璃的厚度越来越薄,越薄的玻璃在安装、使用过程中,极易变形,大尺寸的超薄的玻璃在安装在设备上时,也会因搬运、颠簸发生变形,为此,在安装玻璃的时候直接挤压玻璃使得玻璃在安装状态下呈内凹状态,进而减小玻璃的变形,提升触控体验。
现有技术中,一方面,没有针对玻璃的平整度进行平整度测试,而是直接将玻璃安装在设备上,由于灯珠距离玻璃很近,一但出现因玻璃自身平整度造成的遮挡光线,即造成不合格产品,没有直接从原料的源头减小不合格产品的概率;另一方面,对于内凹安装的玻璃,现有技术没有对内凹玻璃进行平整度测试的设备,一旦当玻璃的内凹程度不在合理范围内,合格的产品也会在后期的颠簸、运输等使用过程中,造成产品不合格,进而降低用户体验。
发明内容
基于上述现状,本发明的主要目的在于提供一种平整度检测设备、检测件和平整度检测方法,以解决现有技术没有针对电子屏幕的原料和成品进行平整度检测的设备的问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:
一种平整度检测设备,用于对待测表面进行平整度检测,其包括光网装置和检测件,所述光网装置用于提供光网,所述光网由若干条交错的光线构成网状,所述检测件至少包括抵靠部和遮挡部,所述抵靠部用于抵靠在所述待测表面上,所述遮挡部用于置于所述光网内,所述遮挡部构造为,当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时,所述遮挡部对所述光线的有效遮挡数量不同。
优选地,所述光网为纵横交错的直扫光网或者扇形光网。
优选地,所述检测件包括锥形结构,所述锥形结构的侧面构成所述遮挡部,所述锥形结构的大端的端面构成所述抵靠部。
优选地,还包括便于握持的手柄,所述手柄与所述锥形结构的小端相连。
优选地,所述手柄包括呈杆状的手柄部和凸出部,所述凸出部沿所述手柄部的周向设置且凸出方向与所述手柄部的延伸方向呈夹角设置,所述凸出部用于标示握持的极限位置。
优选地,所述待测表面包括多个检测位置,每个所述检测位置的所述光网的疏密程度一致。
为实现上述目的,本发明还采用的技术方案如下:
一种检测件,用于对红外触摸显示屏中的玻璃进行平整度检测,所述红外触摸显示屏能够形成红外光网,所述检测件包括抵靠部和遮挡部,所述抵靠部用于抵靠在所述玻璃表面上,所述遮挡部用于置于所述红外光网内,所述红外光网由若干条交错的红外光线构成网状,所述遮挡部构造为,当所述抵靠部抵靠在所述待测表面的具有不同平整度的位置时,所述遮挡部对所述红外光线的有效遮挡数量不同。
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