[发明专利]颗粒淌度质谱仪及颗粒的分析方法有效
| 申请号： | 201910329984.0 | 申请日： | 2019-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN110085505B | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 聂宗秀;熊彩侨;刘超子;李玉泽 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/02;H01J49/16;H01J49/26;H01J49/42;G01N27/62;G01N27/64 |
| 代理公司： | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人： | 佟林松 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种颗粒淌度质谱仪及颗粒的分析方法。该颗粒淌度质谱仪包括离子阱、电荷检测装置和漂移气输入系统，离子阱包括上端电极、下端电极和环电极，上端电极和下端电极与环电极之间均设有绝缘结构，环电极上设置有样品入口，上端电极和下端电极上分别设有漂移气入口和样品出口；电荷检测装置位于离子阱下方，且样品出口与电荷检测装置相对设置；漂移气输入系统位于离子阱上方，漂移气输入系统包括气体引入管路，气体引入管路的末端对准漂移气入口，且气体引入管路上设置有气体阀门。该颗粒淌度质谱仪可以同时测得大分子量颗粒的质量、粒径和密度，从而解决了现有技术中离子淌度质谱不能对具有大分子量的颗粒物质有效分析的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 质谱仪 分析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种颗粒淌度质谱仪，其特征在于，包括离子阱(1)、电荷检测装置(2)和漂移气输入系统(3)，其中，所述离子阱(1)包括一个上端电极(5)、一个下端电极(7)和位于两者之间的一个环电极(6)，所述上端电极(5)和下端电极(7)与所述环电极(6)之间均设有绝缘结构(8)，所述环电极(6)上设置有至少一个样品入口(9)，所述上端电极(5)和所述下端电极(7)的中心位置处分别设有一个漂移气入口(10)和一个样品出口(11)；所述电荷检测装置(2)位于所述离子阱(1)下方，且所述样品出口(11)与所述电荷检测装置(2)相对设置；所述漂移气输入系统(3)位于所述离子阱(1)上方，所述漂移气输入系统(3)包括一个气体引入管路(12)，所述气体引入管路(12)的末端对准所述漂移气入口(11)，且所述气体引入管路(12)上设置有气体阀门(13)。
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