[发明专利]监控扫描式光刻机连续景深扩展程序功能的方法在审
申请号: | 201910254875.7 | 申请日: | 2019-03-29 |
公开(公告)号: | CN109870882A | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 王辉 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种监控扫描式光刻机连续景深扩展程序功能的方法,首先,对未开启连续景深扩展程序功能的产品进行数据收集;然后再开启扫描式光刻机的连续景深扩展程序功能,收集开启了连续景深扩展程序功能的产品的数据;对上述数据进行监控。上述数据的变化可导致ID bias的数值变化,通过监控ID bias的数值变化,实现对连续景深扩展程序功能的监控。 | ||
搜索关键词: | 程序功能 景深扩展 扫描式光刻机 监控 数值变化 数据收集 | ||
【主权项】:
1.一种监控扫描式光刻机连续景深扩展程序功能的方法,其特征在于:通过监控ID bias的数值变化,实现对连续景深扩展程序功能的监控;所述ID bias是指Dense图形与ISO图形之间的差值,即是在同一曝光条件下,曝光出来的密集图形CD与稀疏图形CD之间的差值;所述连续景深扩展程序功能,是指具备通过将晶圆承台倾斜一定角度,同时晶圆承台上下移动,对晶圆表面进行扫描进行曝光进而实现光刻工艺窗口增加的功能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910254875.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。