[发明专利]基于纳米光刻光盘的偏振平衡测量读取方法及装置有效
| 申请号： | 201910093645.7 | 申请日： | 2019-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN111508534B | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 王中阳;张力 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海高等研究院 |
| 主分类号： | G11B7/005 | 分类号： | G11B7/005;G11B7/0045;G11B7/007;G11B7/125;G11B7/1376;G11B7/24035;G11B7/24053;G11B7/24062 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 高彦 |
| 地址： | 201210 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于纳米光刻光盘的偏振平衡测量读取方法及装置。通过采用纳米光刻方法进行超高密度光盘存储信息刻写，采用双折射刻写记录材料进行信息存储，采用光致双折射记录材料进行可擦除信息存储，可实现纳米光刻光盘的可擦除多次重复信息记录。读取方法则包括：偏振平衡测量读取方法进行光盘信息读取；采用数字信息编解码方法可实现光盘的多维存储信息的快速读取。本发明有利于缩小信息记录点的尺寸与间距，提升光盘的存储密度,实现光盘存储信息的稳定、长久存储，以及对超高密度光盘存储信息的有效、高速提取。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 纳米 光刻 光盘 偏振 平衡 测量 读取 方法 装置 | ||
【主权项】：
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