[发明专利]分析方法和分析装置在审
| 申请号： | 201880051131.9 | 申请日： | 2018-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN110998294A | 公开（公告）日： | 2020-04-10 |
| 发明（设计）人： | 系长诚;小野雅之;长谷川祐一;辻田公二 | 申请（专利权）人： | JVC建伍株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49;G01N21/47;G01N33/53;G01N33/543 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 杜立健 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 对分析用基板(1)照射激光(50a)，接收来自反应区域(10)的反射光，生成受光电平信号(JS)。进而，在反应区域(10)中提取信号电平比规定的信号电平(Lth)高的受光电平信号(JS)作为粒子检测信号(KS)，基于提取出的粒子检测信号(KS)检测出检测对象物质11)。分析用基板(1)由树脂材料形成，并具有反应区域(10)和未形成反应区域(10)的未反应区域(9)，该反应区域(10)捕获有检测对象物质(11)、设置有识别检测对象物质(11)的抗体(21)的第一粒子(20)、设置有与抗体(21)结合的抗原(31)且由金属形成的第二粒子(30)。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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