[发明专利]一种分布式SRAM失效分析方法及系统有效
| 申请号： | 201811601294.8 | 申请日： | 2018-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN111368498B | 公开（公告）日： | 2023-07-28 |
| 发明（设计）人： | 邵康鹏;陆梅君;杨慎知 | 申请（专利权）人： | 杭州广立微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398 |
| 代理公司： | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 | 代理人： | 王静 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种分布式SRAM失效分析方法及其系统。一种分布式SRAM失效分析方法，该方法包括以下步骤：A、获取SRAM测试数据结果作为原始数据并对其进行失效分析，得到失效分析结果数据；B、对分析结果数据按预设的二进制编码规则进行二进制编码压缩，并将压缩后的分析结果数据注入分布式数据库中；C、从分布式数据库中提取要进行展示的分析结果数据，根据预设的二进制解码规则对提取的数据进行解码，根据绘制时的分辨率要求，对解码后的分析结果数据按预设的数据采样规则进行采样后，在前端绘制展示。本发明能有效压缩一片Wafer原有的占用空间，提高SRAM失效分析的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分布式 sram 失效 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
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