[发明专利]平整度检测装置及方法在审

专利信息
申请号: 201811563238.X 申请日: 2018-12-20
公开(公告)号: CN111351464A 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 刘宇青;李西航;方俊康;苏柏霖;吴炜;王学伟;陈以龙;崔国义 申请(专利权)人: 鸿富锦精密电子(郑州)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 习冬梅;李艳霞
地址: 451162 河南省*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 一种平整度检测装置,包括:压力感测单元及能与所述压力感测单元进行数据通讯的控制器,所述压力感测单元包括平板部以及设置在所述平板部边缘的压力感测器;所述压力感测器裸露于所述平板部之外侧,且所述压力感测器的感测面与所述平板部的底表面相齐平,所述感测面用于感测待测物体施加于其上的压力,所述控制器能接受所述压力感测器传输的压力并根据所述压力判断待测物体的平整度。
搜索关键词: 平整 检测 装置 方法
【主权项】:
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