[发明专利]一种基于支持向量回归的闪存寿命预测方法在审
| 申请号： | 201811547901.7 | 申请日： | 2018-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN109637576A | 公开（公告）日： | 2019-04-16 |
| 发明（设计）人： | 刘政林;陈卓;鲁赵骏;张海春 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G06F17/18 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 廖盈春;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于支持向量回归的闪存寿命预测方法，包括下述步骤：(1)获取待测闪存的特征量，特征量包括：闪存的编程时间、读取时间、擦除时间、电流、功耗、阈值电压分布、存储块编号、存储页号、闪存当前经历过的编程/擦除周期数、条件错误页数、条件错误块数、错误比特数和错误率；(2)对特征量进行处理后获得运算结果；(3)将特征量与运算结果组成集合，并将集合中的子集作为支持向量回归模型的输入进行支持向量回归运算后获得与特征量对应的闪存的寿命预测值。本发明可以预测闪存的剩余使用寿命，让闪存存储设备使用者在使用设备期间了解存储器的损耗状态，避免因存储器单元失效而造成的数据流失。 | ||
| 搜索关键词： | 闪存 特征量 支持向量回归 寿命预测 编程 集合 读取 剩余使用寿命 阈值电压分布 存储器单元 擦除周期 存储设备 使用设备 数据流失 损耗状态 运算结果 存储器 比特数 存储页 错误率 与运算 擦除 功耗 页数 子集 运算 存储 预测 | ||
【主权项】：
1.一种基于支持向量回归的闪存寿命预测方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)获取待测闪存的特征量，特征量包括：闪存的编程时间、读取时间、擦除时间、电流、功耗、阈值电压分布、存储块编号、存储页号、闪存当前经历过的编程/擦除周期数、条件错误页数、条件错误块数、错误比特数和错误率；(2)对所述特征量进行处理后获得运算结果；(3)将所述特征量与所述运算结果组成集合，并将所述集合中的子集作为支持向量回归模型的输入进行支持向量回归运算后获得与所述特征量对应的闪存的寿命预测值.。
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