[发明专利]一种磁性纳米粒子测量位置的优化设计方法

摘要

本发明涉及磁性纳米粒子测量研究领域，特别是一种磁性纳米粒子测量位置的优化设计方法。确定磁性纳米粒子装置对应的极限测量个数和测量距离；构造样本集并训练和输出，对于每个分组的样本集，以一组测量位置的磁感应强度Bx分量为输入，磁性纳米粒子个数为输出进行训练；磁性纳米粒子个数测量准确率越高，响应磁场强度越大时，该分组的评价值越高，从而构造评价函数并评价，得到最优分组及对应的最优测量位置。对含有不同粒子个数的磁性纳米粒子装置进行均匀磁场仿真实验，探究不同位置的响应磁场强度与磁性纳米粒子个数的关系，从而获得磁性纳米粒子的最优测量位置，用于磁性纳米粒子个数的测量，进而提高了磁性纳米粒子个数测量的精度。

主权项

1.一种磁性纳米粒子测量位置的优化设计方法，其特征在于，步骤如下：1)测量磁性纳米粒子装置的截面积参数，确定磁性纳米粒子装置对应的极限测量个数N和测量距离L；2)构造样本集：在极限测量个数N以内，调整测量个数和粒子分布，分别进行均匀磁场仿真实验；得到多个仿真模型；对每个仿真模型，以L为半径得到一个圆周上均分分布的测量位置，每个测量位置距离仿真模型的距离均为L；每个测量位置得到相应的磁感应强度Bx分量的数据，从而得到整个样本集；上述均匀分布的测量位置，4个对称的测量位置为一组，从而将整个样本集分为若干个分组样本集，每个分组样本集对应一组测量位置；3)训练和输出：对于每个分组的样本集，以一组测量位置的磁感应强度Bx分量为输入，磁性纳米粒子个数为输出进行训练；磁性纳米粒子个数测量准确率越高，响应磁场强度越大时，该分组的评价值越高，从而构造评价函数maxF(x)；根据评价函数maxF(x)对各个分组进行评价，得到最优分组和较优分组，以及对应的最优测量位置或较优测量位置。