[发明专利]实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法有效
| 申请号： | 201811257712.6 | 申请日： | 2018-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN109447914B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 赵红东;李宇海;韩力英;杨东旭;马俊成;康晴;孙梅 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学;中国电子科技集团公司第五十三研究所 |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00;G06T5/40;G06T5/50 |
| 代理公司： | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人： | 胡安朋 |
| 地址： | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的方法，涉及使用直方图技术的图像数据处理，该方法是求出纳米颗粒SEM原始图像的分块均衡化拼接图像的像素值与纳米颗粒SEM对称外拓展分块均衡化拼接截取图像像素值的平均值，实现整体纳米颗粒SEM图像的亮度均匀化，克服了现有技术采用掩模法、分块处理以及划分区域只适应于图像非边沿部分的校正，均存在无法实现图像周围边界部分进行插值和校正，即无法实现整体纳米颗粒SEM图像亮度均匀化的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 整体 纳米 颗粒 sem 图像 亮度 均匀 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河北工业大学;中国电子科技集团公司第五十三研究所，未经河北工业大学;中国电子科技集团公司第五十三研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811257712.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
