[发明专利]具有叠层封装互连的多封装集成电路组件在审
申请号: | 201810218708.2 | 申请日: | 2018-03-16 |
公开(公告)号: | CN108630558A | 公开(公告)日: | 2018-10-09 |
发明(设计)人: | H.I.金 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/31 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;张金金 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明公开了具有叠层封装互连的多封装集成电路组件。一种多封装集成电路组件可以包括:第一电子封装,其具有包括第一管芯侧和第一界面侧的第一封装基板。该第一管芯可以被电气耦合至第一管芯侧。第二电子封装可以包括具有第二管芯侧和第二界面侧的第二封装基板。该第二管芯可以被电气耦合至第二管芯侧。可以将导电互连从第一封装基板的界面侧电气耦合至第二封装基板的界面侧。可以将共同基板附接至第一电子封装。例如,该共同基板可以位于第一电子封装的与第一封装基板相对的面上。该共同基板通过第一封装基板电气耦合至第一管芯和第二管芯。 | ||
搜索关键词: | 封装基板 电气耦合 电子封装 第二管 管芯 封装集成电路 基板 叠层封装 互连 芯侧 导电互连 附接 | ||
【主权项】:
1.一种多封装集成电路,其包括:第一电子封装,其包括具有第一管芯侧和第一界面侧的第一封装基板,第一管芯电气耦合至第一封装基板的第一管芯侧;第二电子封装,其包括具有第二管芯侧和第二界面侧的第二封装基板,第二管芯电气耦合至第二封装基板的第二管芯侧;电气耦合第一封装基板和第二封装基板的导电互连,其中该导电互连被定位成从第一封装基板的界面侧至第二封装基板的界面侧;以及附接至第一电子封装的共同基板,其中该共同基板位于第一电子封装的与第一封装基板相对的面上,并且该共同基板通过第一封装基板电气耦合至第一管芯和第二管芯。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造