[发明专利]一种电极表面电流密度测量方法及系统在审

专利信息
申请号: 201810088204.3 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN108181498A 公开(公告)日: 2018-06-19
发明(设计)人: 铁军;赵仁涛;张志芳;郑文堂;范洪涛 申请(专利权)人: 北方工业大学
主分类号: G01R19/08 分类号: G01R19/08;C25C7/06
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 王戈
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种电极表面电流密度测量方法和系统。该方法包括:将电极表面划分为多个区域;采用确定面积的光纤环测量各所述区域的电流密度大小;根据各所述区域的电流密度计算所述电极表面的电流密度分布。本发明能够获得所述电极表面的电流密度分布,为提高电解电流效率和产品质量、降低产品成本提供参数优化依据。
搜索关键词: 电极表面 电流密度测量 电流密度分布 电解电流效率 电流密度计算 产品成本 参数优化 光纤环 测量
【主权项】:
1.一种电极表面电流密度测量方法,其特征在于,所述方法包括:将电极表面划分为多个区域;采用确定面积的光纤环测量各所述区域的电流大小;所述光纤环的直径≤2cm,所述光纤环的面积≤3cm2,所述光纤环的测量精度≤1%;根据所述光纤环的面积以及在各所述区域测量到的电流大小计算各所述区域的电流密度;根据各所述区域的电流密度计算所述电极表面的电流密度分布。
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