[发明专利]一种PCB孤立图形二次干膜蚀刻方法在审
申请号: | 201810030437.8 | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN108200728A | 公开(公告)日: | 2018-06-22 |
发明(设计)人: | 付雷;黄勇;贺波 | 申请(专利权)人: | 奥士康精密电路(惠州)有限公司 |
主分类号: | H05K3/06 | 分类号: | H05K3/06 |
代理公司: | 惠州创联专利代理事务所(普通合伙) 44382 | 代理人: | 任海燕 |
地址: | 516223 广东省惠*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及PCB加工技术领域,公开了一种PCB孤立图形二次干膜蚀刻方法,包括如下步骤:a.图形转移;b.图形电镀;c.图形蚀刻;d.第二次图形转移;e.第二次蚀刻。本方法适用于具有局部孤立图形设计的、铜厚2OZ‑3OZ的PCB的二次干膜蚀刻方法,极大降低生产不良率,成本低,效率高,适合大规模推广。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 孤立图形 干膜 图形转移 降低生产 图形电镀 图形蚀刻 不良率 | ||
【主权项】:
1.一种PCB孤立图形二次干膜蚀刻方法,其特征在于,包括如下步骤:a.图形转移;b.图形电镀;c.图形蚀刻;d.第二次图形转移;e.第二次蚀刻;其中,所述的c步骤包括碱性蚀刻,非孤立图形区完全蚀刻不留残铜;所述的d步骤包括如下步骤:贴一层干膜:干膜厚度25‑35um;第一次压模:压膜速度2.0±0.5m/min、压膜温度110±5℃;贴一层干膜:干膜厚度25‑35um;第二次压模:压膜速度1.8±0.5m/min,压膜温度100±5℃;曝光:孤立图形开窗单边补偿1.2‑1.5mil,非孤立区不开窗,曝光尺6格满,台面真空‑300至‑370mmHg;显影:显影点控制55±5%;所述e步骤为酸性蚀刻,参数为蚀刻压力1.8±0.2Kg/cm2,蚀刻次数1次。
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