[发明专利]掩模板及其制备方法、掩模板曝光系统、拼接曝光方法有效
申请号: | 201810004543.9 | 申请日: | 2018-01-03 |
公开(公告)号: | CN108051980B | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
发明(设计)人: | 朱宁;缪应蒙;刘德强;高玉杰;穆文凯 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G03F1/54 | 分类号: | G03F1/54;G03F1/38;G03F7/22 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 袁礼君;王卫忠 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开提供一种掩模板及其制备方法、掩模板曝光系统、以及拼接曝光方法,涉及半导体技术领域。所述掩模板包括掩模板本体以及位于掩模板本体的拼接曝光区域的紫外光吸收层;所述紫外光吸收层中紫外光吸收材料的含量在拼接曝光区域中沿预设方向递变,以使穿过该拼接曝光区域的紫外光透过率沿预设方向递变;其中,不同含量的紫外光吸收材料对应不同的紫外光透光率。本公开可避免拼接断裂缝的现象并提升拼接处的容错能力。 | ||
搜索关键词: | 模板 及其 制备 方法 曝光 系统 拼接 | ||
【主权项】:
1.一种掩模板,其特征在于,包括掩模板本体以及位于所述掩模板本体的拼接曝光区域的紫外光吸收层;所述紫外光吸收层中紫外光吸收材料的含量在所述拼接曝光区域中沿预设方向递变,以使穿过所述拼接曝光区域的紫外光透过率沿所述预设方向递变;其中,不同含量的紫外光吸收材料对应不同的紫外光透光率。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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