[实用新型]一种用于测试IC芯片的COB板有效
申请号: | 201721888009.6 | 申请日: | 2017-12-29 |
公开(公告)号: | CN207601241U | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 贾奎;梁庆云 | 申请(专利权)人: | 深圳市创智芯科电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型一种用于测试IC芯片的COB板,包括COB板、上板、下板、IC芯片板、IC芯片凹槽、控制器、弹簧柱,所述COB板上设有上板,所述上板的下方固定设有下板,所述上板的表面固定设有IC芯片板,所述IC芯片板的表面设有IC芯片凹槽,所述IC芯片凹槽通过IC芯片板与上板固定连接,所述上板的侧面固定设有控制器,所述控制器的下方弹性设有弹簧柱,该一种用于测试IC芯片的COB板,可通过带有弹簧柱的控制器,便于对IC芯片进行弹出,增加了工作效率,通过设置带有IC芯片凹槽的IC芯片板,增加了IC芯片的批量处理能力,结构简单,易于实现。 | ||
搜索关键词: | 上板 控制器 弹簧柱 测试 下板 表面固定 侧面固定 工作效率 弹出 | ||
【主权项】:
1.一种用于测试IC芯片的COB板,包括COB板(1)、上板(2)、下板(3)、IC芯片板(4)、IC芯片凹槽(5)、控制器(7)、弹簧柱(9),其特征在于:所述COB板(1)上设有上板(2),所述上板(2)的下方固定设有下板(3),所述上板(2)的表面固定设有IC芯片板(4),所述IC芯片板(4)的表面设有IC芯片凹槽(5),所述IC芯片凹槽(5)通过IC芯片板(4)与上板(2)固定连接,所述上板(2)的侧面固定设有控制器(7),所述控制器(7)的下方弹性设有弹簧柱(9)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市创智芯科电子科技有限公司,未经深圳市创智芯科电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201721888009.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于智能仪表的电源转换芯片性能测试电路
- 下一篇:ROSA测试电路