[实用新型]一种用于测试IC芯片的COB板有效
| 申请号： | 201721888009.6 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN207601241U | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | 贾奎;梁庆云 | 申请（专利权）人： | 深圳市创智芯科电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 上板 控制器 弹簧柱 测试 下板 表面固定 侧面固定 工作效率 弹出 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测试IC芯片的COB板，包括COB板(1)、上板(2)、下板(3)、IC芯片板(4)、IC芯片凹槽(5)、控制器(7)、弹簧柱(9)，其特征在于：所述COB板(1)上设有上板(2)，所述上板(2)的下方固定设有下板(3)，所述上板(2)的表面固定设有IC芯片板(4)，所述IC芯片板(4)的表面设有IC芯片凹槽(5)，所述IC芯片凹槽(5)通过IC芯片板(4)与上板(2)固定连接，所述上板(2)的侧面固定设有控制器(7)，所述控制器(7)的下方弹性设有弹簧柱(9)。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试IC芯片的COB板，其特征在于：所述上板(2)的表面固定设有固定钮(6)。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试IC芯片的COB板，其特征在于：所述控制器(7)的下方固定设有连接柱(8)。
4.根据权利要求1所述的一种用于测试IC芯片的COB板，其特征在于：所述下板(3)的末端固定设有底座(10)。
5.根据权利要求1所述的一种用于测试IC芯片的COB板，其特征在于：所述IC芯片凹槽(5)为多组设置。
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