[实用新型]一种精密元件的测量系统有效
| 申请号： | 201721754428.0 | 申请日： | 2017-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN207502729U | 公开（公告）日： | 2018-06-15 |
| 发明（设计）人： | 陈厚余;谢荣富 | 申请（专利权）人： | 信利光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 邓义华;陈卫 |
| 地址： | 516600 广东省汕*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种精密元件的测量系统，包括至少一红外激光发射器、至少一红外摄像头以及与所述红外摄像头电连接的处理终端；红外激光发射器，用于发射红外激光对精密元件的至少一面进行扫描；红外摄像头，用于接收被精密元件反射回来的红外激光；处理终端，用于依据接收到的红外激光对精密元件获得工业元件的三维成像和尺寸参数。 1 | ||
| 搜索关键词： | 精密元件 红外摄像头 红外激光 红外激光发射器 测量系统 处理终端 本实用新型 尺寸参数 工业元件 三维成像 电连接 反射 扫描 发射 | ||
【主权项】：
1.一种精密元件的测量系统，其特征在于，包括至少一红外激光发射器、至少一红外摄像头以及与所述红外摄像头电连接的处理终端；
红外激光发射器，用于发射红外激光对精密元件的至少一面进行扫描；
红外摄像头，用于接收被精密元件反射回来的红外激光；
处理终端，用于依据接收到的红外激光对精密元件获得工业元件的三维成像和尺寸参数。
2.根据权利要求1所述的精密元件的测量系统，其特征在于，还包括至少一移动装置，用于设置所述红外激光发射器，带动所述红外激光发射器在对精密元件进行扫描时移动。3.根据权利要求2所述的精密元件的测量系统，其特征在于，所述移动装置电连接所述处理终端。4.根据权利要求1‑3中任一所述的精密元件的测量系统，其特征在于，所述红外激光发射器电连接至所述处理终端。5.根据权利要求1所述的精密元件的测量系统，其特征在于，所述处理终端为计算机。6.根据权利要求1或5所述的精密元件的测量系统，其特征在于，所述处理终端包括有显示模块，用于显示精密元件的三维成像和尺寸参数。
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