[实用新型]多工位芯片测试机构

摘要

本实用新型公开一种多工位芯片测试机构，其横梁上表面安装有2个上竖直气缸，此上竖直气缸的活塞杆穿过横梁的通孔，此活塞杆的末端安装有一位于横梁下方的圆盘；2个电性检测机构中另一个电性检测机构通过位于底部的2个第二滑块分别与2个第二导轨滑动连接，一升降板位于电性检测机构和上竖直气缸之间；所述升降板的下端面安装有一空腔壳体，此空腔壳体内具有一水平导向槽，所述空腔壳体内水平地设置有一活动块和连接锲块，一笔形水平气缸位于空腔壳体内并位于活动块和连接锲块上方，所述笔形水平气缸的推杆末端与连接锲块的上端连接。本实用新型在保证高可靠性的前提下，提升了产能，节省了人力，且可根据指纹芯片种类和尺寸，做相应的移动，调整电性检测机构和升降板相对位置，适合多种尺寸的指纹芯片和多区域的检测。

主权项

一种多工位芯片测试机构，其特征在于：包括箱体（1）、左支板（2）、右支板（3）和横梁（4），所述左支板（2）、右支板（3）固定于箱体（1）两侧，所述横梁（4）两端固定于左支板（2）、右支板（3）各自的上端，所述横梁（4）上表面安装有2个上竖直气缸（6），此上竖直气缸（6）的活塞杆（61）穿过横梁（4）的通孔，此活塞杆（61）的末端安装有一位于横梁（4）下方的圆盘（7）；所述箱体（1）上表面平行安装有2个第一导轨（8）和2个第二导轨（9），位于左侧的2个第一导轨（8）之间具有一第一镂空槽（10），位于右侧的2个第二导轨（9）之间具有一第二镂空槽（11），2个电性检测机构（12）中一个电性检测机构（12）通过位于底部的2个第一滑块（13）分别与2个第一导轨（8）滑动连接，2个电性检测机构（12）中另一个电性检测机构（12）通过位于底部的2个第二滑块（14）分别与2个第二导轨（9）滑动连接，一升降板（15）位于电性检测机构（12）和上竖直气缸（6）之间；一下竖直气缸（30）位于箱体（1）内，此下竖直气缸（30）的活塞杆（301）顶部安装有平板（31），此平板（31）的上表面设置有弹性橡胶头（32），此下竖直气缸（30）的活塞杆（301）在竖直方向上位于第一镂空槽（10）或者第二镂空槽（11）内；所述电性检测机构（12）中基板（121）上具有放置指纹芯片的芯片区（122）和放置连接器的连接器区（123），芯片区（122）中央具有一可供弹性橡胶头（32）嵌入的上通孔（124）；所述升降板（15）的下端面安装有一空腔壳体（16），此空腔壳体（16）内具有一水平导向槽（17），所述空腔壳体（16）内水平地设置有一活动块（18）和连接锲块（19），所述活动块（18）和连接锲块（19）均嵌入水平导向槽（17）内，一笔形水平气缸（21）位于空腔壳体（16）内并位于活动块（18）和连接锲块（19）上方，所述笔形水平气缸（21）的推杆（211）末端与连接锲块（19）的上端连接。