[实用新型]一种老化测试板上的插槽结构以及老化测试板

摘要

本实用新型提供了一种老化测试板上的插槽结构以及老化测试板，应用于闪存芯片的测试，第一芯片与第二芯片引脚的数量、设置位置以及间隔相同，其中，包括插槽本体；凹槽，开设于插槽本体中；一对第一台阶，对称的设置于凹槽的两侧，一对第一台阶上设置有与第一类型芯片的引脚相匹配的第一芯片探针组；一对第二台阶，对称的设置于第一台阶上远离凹槽的一侧，一对第二台阶上设置有与第二类型芯片的引脚相匹配的第二芯片探针组；连接引脚，用以与一老化测试板电连接，第一芯片探针组中与第二芯片探针组中对应相同位置引脚的探针并联至对应的连接引脚上。其技术方案有益效果在于，而减少老化测试板的购买数量，降低成本，提高检测效率。

主权项

一种老化测试板上的插槽结构，应用于闪存芯片的测试，所述闪存芯片包括一第一类型芯片以及一第二类型芯片，每一类型的芯片分别包括一本体以及位于本体两侧的引脚，所述第一类型芯片与所述第二类型芯片引脚的数量、设置位置以及间隔相同，其特征在于，插槽结构包括：插槽本体；凹槽，开设于所述插槽本体中；一对第一台阶，对称的设置于所述凹槽的两侧，所述一对第一台阶上设置有与所述第一类型芯片的引脚相匹配的第一芯片探针组；一对第二台阶，对称的设置于所述第一台阶上远离所述凹槽的一侧，所述一对第二台阶上设置有与所述第二类型芯片的引脚相匹配的第二芯片探针组；连接引脚，设置于所述插槽本体的底部，用以与一老化测试板电连接，所述第一芯片探针组中与所述第二芯片探针组中对应相同位置引脚的探针并联至对应的所述连接引脚上。