[实用新型]一种子卡和芯片性能的测试系统有效
| 申请号： | 201720584537.6 | 申请日： | 2017-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN206740918U | 公开（公告）日： | 2017-12-12 |
| 发明（设计）人： | 彭群 | 申请（专利权）人： | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例公开了一种子卡和芯片性能的测试系统。所述子卡用于进行芯片性能的测试，所述芯片通过测试座插入子卡，其中，所述子卡具有封装测试接口和老化测试接口；所述封装测试接口用于与封装测试母板连接，以便对所述芯片进行封装测试；所述老化测试接口用于与老化测试母板连接，以便对所述芯片进行老化测试。通过采用本实用新型实施例的技术方案，同一块子卡可分别用于芯片的封装测试和老化测试，提高了封装测试母板和老化测试母板的可复用性，缩短了研发周期，同时也可达到降低成本的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 种子 芯片 性能 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种子卡，用于进行芯片性能的测试，所述芯片通过测试座插入子卡，其特征在于，所述子卡具有封装测试接口和老化测试接口；所述封装测试接口用于与封装测试母板连接，以便对所述芯片进行封装测试；所述老化测试接口用于与老化测试母板连接，以便对所述芯片进行老化测试。
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