[发明专利]FPGA布线覆盖率测试方法有效

专利信息
申请号: 201711278984.X 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN108051729B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 褚惠芬;孙浩涛;贾红;程显志;陈维新;韦嶔 申请(专利权)人: 西安智多晶微电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/3185
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710075 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种FPGA布线覆盖率测试方法。该测试方法包括在FPGA的IO接口输入测试信号;根据不同的布线方式选取对应的预设路径;根据所述布线方式以及所述预设路径分别将FPGA中的每行和每列基本逻辑单元进行布线;读取IO接口的输出结果完成布线覆盖率测试。本发明提供的测试方法,测试用例数量少,布线方法易于理解,可以节省大量时间以及成本。
搜索关键词: fpga 布线 覆盖率 测试 方法
【主权项】:
1.一种FPGA布线覆盖率测试方法,其特征在于,包括:在FPGA的IO接口输入测试信号;根据不同的布线方式选取对应的预设路径;根据所述布线方式以及所述预设路径分别将FPGA中的每行和每列基本逻辑单元进行布线;读取所述IO接口的输出结果完成布线覆盖率测试。
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