[发明专利]基片表面处理工艺方法及芯片电容、薄膜电阻制作工艺方法在审

专利信息
申请号: 201711262861.7 申请日: 2017-12-04
公开(公告)号: CN107833723A 公开(公告)日: 2018-03-23
发明(设计)人: 何创创;韩玉成;郭海明;应建;居奎;班秀峰 申请(专利权)人: 中国振华集团云科电子有限公司
主分类号: H01C17/075 分类号: H01C17/075;H01G13/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 代理人: 史明罡
地址: 550000 贵州省*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明提供了一种基片表面处理工艺方法及芯片电容、薄膜电阻制作工艺方法,涉及电子元件制造领域。该基片表面处理工艺方法通过在预设定第一温度下,采用单片烧结的方式对陶瓷生胚进行烧结形成陶瓷基片;对烧结后的陶瓷基片进行喷砂处理,采用单片烧结的方式,在烧结的过程中,无需加入隔粘粉,从而减少了陶瓷基片的表面粗糙度、以及提升了陶瓷基片的表面平整度,有效地去除了陶瓷基片表面的凸脊、瓷疱、毛刺、针孔以及斑点,并且通过对烧结后的陶瓷基片进行喷砂处理,更进一步地去除了陶瓷基片表面的凸脊、瓷疱、毛刺、针孔、斑点和划痕,由于外观质量合格率的提升,在生产大量的陶瓷基片时,大大减少了陶瓷基片、芯片电容以及薄膜电阻的生产成本。
搜索关键词: 表面 处理 工艺 方法 芯片 电容 薄膜 电阻 制作
【主权项】:
一种基片表面处理工艺方法,其特征在于,所述基片表面处理工艺方法包括:在预设定第一温度下,采用单片烧结的方式对陶瓷生胚进行烧结形成陶瓷基片;对烧结后的陶瓷基片进行喷砂处理。
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