[发明专利]一种存储器的信号完整性测试方法在审
| 申请号： | 201711218058.3 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108010558A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 叶佳星;欧阳志光;曾涛 | 申请（专利权）人： | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体技术领域，尤其涉及一种存储器的信号完整性测试方法，包括：步骤S1，采用固定的写的延时以及参考比较电压，以及循环调整的读的延时值和比较电压值的组合策略对动态随机存储器进行多次读写操作；步骤S2，记录动态随机存储器响应每次读写操作的每个测试结果；步骤S3，根据所有测试结果，分析得到会影响测试结果延时值和比较电压值的分别的数值边界；步骤S4，根据分别的数值边界，制作一二维数字眼图，二维数字眼图具有表示延时值的水平方向坐标以及表示比较电压值的垂直方向坐标；上述技术方案不需要设置测试探头和示波器，就能够对动态随机存储器信号读取方向信号完整性进行测试，测试效率高，信号覆盖面大。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 信号 完整性 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器的信号完整性测试方法，应用于一动态随机存储器；其特征在于，包括：步骤S1，采用固定的写的延时以及参考比较电压，以及循环调整的读的延时值和比较电压值的组合策略对所述动态随机存储器进行多次读写操作；步骤S2，记录所述动态随机存储器响应每次所述读写操作的每个测试结果；步骤S3，根据所有所述测试结果，分析得到会影响所述测试结果的所述延时值和所述比较电压值的分别的数值边界；步骤S4，根据分别的所述数值边界，制作一二维数字眼图，所述二维数字眼图具有表示所述延时值的水平方向坐标以及表示所述比较电压值的垂直方向坐标。
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