[发明专利]基于光纤拉锥结合化学腐蚀制备光纤F‑P传感器的方法在审

专利信息
申请号: 201711216215.7 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN107861192A 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 祝连庆;周康鹏;何巍;张雯;娄小平;董明利;陈少华 申请(专利权)人: 北京信息科技大学
主分类号: G02B6/25 分类号: G02B6/25;G02B6/255
代理公司: 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11416 代理人: 顾珊,庞立岩
地址: 100085 北京市海淀区清*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于光纤拉锥结合化学腐蚀制备光纤F‑P应变传感器的方法,通过拉锥结合化学腐蚀方法制备光纤上的F‑P微结构,来实现物理量的测量,拉锥后的光纤的纤芯和包层变细,测量应变时测量腔长变化会更明显,进而灵敏度更高,适合高精度测量;在锥形结构上又构造出F‑P结构会使传感灵敏度进一步提高。本发明制备的光纤F‑P应变传感器器件的结构简单,稳定性可靠,并可以根据要求制备不同腔长的器件,制备方法简便,其中拉锥和化学腐蚀技术成本较低,重复性高,易于实现器件的批量加工。
搜索关键词: 基于 光纤 结合 化学 腐蚀 制备 传感器 方法
【主权项】:
一种基于光纤拉锥结合化学腐蚀制备光纤F‑P应变传感器的方法,包括以下步骤:S1:采用普通单模光纤,将其放置在高精度单芯熔接机中拉锥;S2:用切割刀将拉锥后的普通单模光纤从中间切断,并将其中一端置于40%的氢氟酸中腐蚀10分钟,直至被腐蚀的光纤端面形成凹槽;S3:将上述被腐蚀的光纤端面洗净残留氢氟酸,并与普通单模光纤另一端在熔接机中熔接,形成F‑P腔结构,得到光纤F‑P应变传感器器件。
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