[发明专利]一种用于老化测试的方法、装置和设备有效
| 申请号： | 201711212555.2 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN107831391B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 杨涛 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 钟胜光 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于老化测试的方法、装置和设备，该方法包括：在对电子产品进行老化测试时，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，其中，在所述老化测试中所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压。该方法、装置和设备能够在不增大电子产品出现热失控的风险且确保老化测试效果的情况下减少电子产品的老化测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 老化 测试 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于老化测试的方法，包括：在对电子产品进行老化测试时，在将所述电子产品加热到预定温度之后，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，其中，在所述老化测试中，所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压，其中，所述电子产品包括第一组功能区和第二组功能区，其中，与所述第二组功能区相比，所述第一组功能区具有更高的缺陷密度和早期失效比率，以及，所述至少一个功能区包括所述第一组功能区，其中，所述方法还包括：在所述老化测试期间，向所述第二组功能区施加指定测试电压，其中，所述指定测试电压小于所述第一组测试电压中的测试电压但大于所述第二组测试电压中的测试电压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司，未经英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711212555.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：充电式小夜灯
- 下一篇：一种全电子联锁硬件智能测试系统
