[发明专利]一种用于老化测试的方法、装置和设备

权利要求书

1.一种用于老化测试的方法，包括：

在对电子产品进行老化测试时，在将所述电子产品加热到预定温度之后，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及

在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，

其中，在所述老化测试中，所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压，

其中，所述电子产品包括第一组功能区和第二组功能区，其中，与所述第二组功能区相比，所述第一组功能区具有更高的缺陷密度和早期失效比率，以及，所述至少一个功能区包括所述第一组功能区，

其中，所述方法还包括：在所述老化测试期间，向所述第二组功能区施加指定测试电压，其中，所述指定测试电压小于所述第一组测试电压中的测试电压但大于所述第二组测试电压中的测试电压。

2.如权利要求1所述的方法，其中，还包括：

在所述第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区输入第一组测试数据序列或第二组测试数据序列中的测试数据序列；以及

在所述第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区输入所述第二组测试数据序列中的测试数据序列，

其中，与所述第二组测试数据序列相比，所述第一组测试数据序列使得所述电子产品在所述老化测试时产生更多的热量。

3.一种用于老化测试的装置，包括：

第一施加模块，用于在对电子产品进行老化测试时，在将所述电子产品加热到预定温度之后，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及

第二施加模块，用于在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，

其中，在所述老化测试中，所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压，

其中，所述电子产品包括第一组功能区和第二组功能区，其中，与所述第二组功能区相比，所述第一组功能区具有更高的缺陷密度和早期失效比率，以及，所述至少一个功能区包括所述第一组功能区，

其中，所述装置还包括：第三施加模块，用于在所述老化测试期间，向所述第二组功能区施加指定测试电压，其中，所述指定测试电压小于所述第一组测试电压中的测试电压但大于所述第二组测试电压中的测试电压。

4.如权利要求3所述的装置，其中，还包括：

第一输入模块，用于在所述第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区输入第一组测试数据序列或第二组测试数据序列中的测试数据序列；以及

第二输入模块，用于在所述第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区输入所述第二组测试数据序列中的测试数据序列，

其中，与所述第二组测试数据序列相比，所述第一组测试数据序列使得所述电子产品在所述老化测试时产生更多的热量。

5.一种用于老化测试的设备，包括：

处理器；以及

存储器，其上存储有可执行指令，其中，所述可执行指令当被执行时使得所述处理器执行权利要求1-2中的任意一个所述的方法。

6.一种机器可读介质，其上存储有可执行指令，其中，所述可执行指令当被执行时使得机器执行权利要求1-2中的任意一个所述的方法。