[发明专利]一种用于老化测试的方法、装置和设备

说明书

本发明涉及一种用于老化测试的方法、装置和设备，该方法包括：在对电子产品进行老化测试时，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，其中，在所述老化测试中所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压。该方法、装置和设备能够在不增大电子产品出现热失控的风险且确保老化测试效果的情况下减少电子产品的老化测试时间。

技术领域

本发明涉及老化测试领域，尤其涉及用于老化测试的方法、装置和设备。

背景技术

包括芯片等在内的电子产品生产出来后在出厂之前需要进行老化测试(BI：BurnIn)以筛选出在正常使用过程中会早期失效的电子产品，避免把这些会早期失效的电子产品交付给客户。因此，老化测试是电子产品在出厂之前的一个必不可少的处理。

电子产品的老化测试过程具体如下：在把电子产品加热到预定温度之后，向电子产品施加电压和输入测试数据使其工作一定时间以加速其老化过程，在测试期间观察其是否失效，如果其失效则将其剔除以避免其流入客户手中。

现有的老化测试方法通常在测试时对电子产品的所有功能区仅施加一个统一的固定不变的电压。由于在老化测试时电子产品被施加的电压越高，电子产品出现热失控的风险越大，因此，为了减少电子产品出现热失控的风险，该统一的固定不变的电压相对较小。然而，由于该统一的固定不变的电压相对较小，因此，需要对电子产品进行更长时间的测试，才能把在正常使用过程中会早期失效的电子产品筛选出来，这增大了老化测试时间，导致老化测试成为生产电子产品的产能瓶颈。但是，如果在该统一的固定不变的电压相对较小的情况下，为了使得老化测试不成为生产电子产品的产能瓶颈而强行缩短老化测试时间，则有可能一些在正常使用过程中会早期失效的电子产品不能检测出来，这会导致老化测试效果不佳。

发明内容

鉴于以上问题，本发明的实施例提供一种用于老化测试的方法、装置和设备，其能够在不增大电子产品出现热失控的风险且确保老化测试效果的情况下减少电子产品的老化测试时间。

按照本发明的实施例的一种用于老化测试的方法，包括：在对电子产品进行老化测试时，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，其中，在所述老化测试中所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压。

按照本发明的实施例的一种用于老化测试的装置，包括：第一施加模块，用于在对电子产品进行老化测试时，在所述老化测试的具有至少一个时间段的第一组时间段中的每一个时间段期间，向所述电子产品的至少一个功能区施加第一组测试电压中的其中一个测试电压；以及，第二施加模块，用于在所述老化测试的具有至少一个时间段的第二组时间段中的每一个时间段期间，向所述至少一个功能区施加第二组测试电压中的其中一个测试电压，其中，在所述老化测试中所述第一组时间段在所述第二组时间段之前，以及，所述第一组测试电压中的测试电压大于所述第二组测试电压中的测试电压。

按照本发明的实施例的一种用于老化测试的设备，包括：处理器；以及，存储器，其上存储有可执行指令，其中，所述可执行指令当被执行时使得所述处理器执行前述的方法。

按照本发明的实施例的一种机器可读介质，其上存储有可执行指令，其中，所述可执行指令当被执行时使得机器执行前述的方法。