[发明专利]一种硅片的缺口检测方法及装置在审
| 申请号： | 201711205182.6 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN108010018A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 李阳;周璐;李铭 | 申请（专利权）人： | 浙江华睿科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/60 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 310053 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种硅片的缺口检测方法及装置，所述方法包括：获取硅片图像，提取所述硅片的边界点；针对每个边界点，根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点，确定该边界点对应的方向角变化量；针对每个边界点，判断该边界点对应的方向角变化量是否大于预设的方向角变化阈值；如果是，确定该边界点处存在缺口。由于在本发明实施例中，针对硅片的每个边界点，根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点，确定该边界点对应的方向角变化量，并当该边界点对应的方向角变化量大于预设的方向角变化阈值时，确定该边界点处存在缺口，直接根据硅片的边界点对硅片是否存在缺口进行检测，无需对边界点进行拟合，提高了硅片的缺口检测的精度与效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硅片 缺口 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种硅片的缺口检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取硅片图像，提取所述硅片图像中硅片区域对应的每个边界点；针对每个边界点，根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点，确定该边界点对应的方向角变化量；针对每个边界点，判断该边界点对应的方向角变化量是否大于预设的方向角变化阈值；如果是，确定硅片与该边界点对应处存在缺口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江华睿科技有限公司，未经浙江华睿科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711205182.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：含莫来石的耐火砖及其制备方法
- 下一篇：预应力钢筋混凝土圆形拱塔施工方法
