[发明专利]一种在薄膜中形成斜面的方法在审
申请号: | 201711139722.5 | 申请日: | 2017-11-16 |
公开(公告)号: | CN109795977A | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 王诗男 | 申请(专利权)人: | 上海新微技术研发中心有限公司 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00;H01L21/02 |
代理公司: | 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 | 代理人: | 刘元霞 |
地址: | 201800 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请提供一种在薄膜中形成斜面的方法,包括:在薄膜的表面形成保护膜图形,在所述保护膜图形中形成有开口;在所述开口周围的保护膜图形与所述薄膜之间,形成空洞,所述空洞与所述开口连通;以所述保护膜图形作为掩膜,经由所述开口对所述薄膜进行各向异性刻蚀,在所述薄膜中形成侧壁;以所述保护膜图形作为掩膜,经由所述开口对所述薄膜进行各向同性刻蚀,以使所述侧壁成为相对于所述薄膜的表面的法向倾斜的斜面。根据本申请,在形成斜面的过程中,能够对斜面顶部的薄膜的形状进行精确地控制。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 保护膜图形 开口 侧壁 掩膜 空洞 表面形成保护膜 各向同性刻蚀 各向异性刻蚀 开口周围 法向 连通 申请 | ||
【主权项】:
1.一种在薄膜中形成斜面的方法,包括:在薄膜的表面形成保护膜图形,在所述保护膜图形中形成有开口;在所述开口周围的保护膜图形与所述薄膜之间,形成空洞,所述空洞与所述开口连通;以所述保护膜图形作为掩膜,经由所述开口对所述薄膜进行各向异性刻蚀,在所述薄膜中形成侧壁;以所述保护膜图形作为掩膜,经由所述开口对所述薄膜进行各向同性刻蚀,以使所述侧壁成为相对于所述薄膜的表面的法向倾斜的斜面。
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