[发明专利]测量绝对角位置有效
| 申请号： | 201711117630.7 | 申请日： | 2017-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN108072318B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | P·范德斯蒂根;J-C·迪波尔特;S·休伯林登贝格尔 | 申请（专利权）人： | 迈来芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/30 | 分类号： | G01B7/30 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 姬利永;黄嵩泉 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及测量绝对角位置。一种磁传感器布置(100、150、220)，其包括：磁体组件(25、31)和磁传感器(6)；所述磁体组件(25、31)在所述磁传感器(6)的位置形成具有至少两个具有不同角度周期性的磁场分量(Bp、Bs)的磁场，以及所述磁传感器(6)包括用于感测不同磁场分量(Bp、Bs)以产生至少第一和第二传感器元件信号的装置；以及计算元件，其用于接收所述至少第一和第二传感器元件的信号且组合它们以产生磁体相对于所述传感器的唯一角位置。还提供了一种确定唯一角位置的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 绝对 位置 | ||
【主权项】：
1.一种磁传感器布置(100、150、240)，其包括：磁体组件(25、31)和磁传感器(6)；所述磁体组件(25、31)在所述磁传感器(6)的位置形成具有至少两个具有不同角度周期性的磁场分量(Bp、Bs)的磁场，以及所述磁传感器(6)包括用于感测不同磁场分量(Bp、Bs)以产生至少第一和第二传感器元件信号的装置；和计算元件，其用于接收所述至少第一和第二信号且用于组合它们以产生所述磁体相对于所述传感器(6)的唯一角位置。
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