[发明专利]显示模组测试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201711115393.0 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN107941465A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 江吉龙 申请(专利权)人: 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01R31/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司44202 代理人: 郝传鑫,熊永强
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明实施例公开了一种显示模组测试系统和方法,该系统包括UI管理单元获取待测显示模组的初始化参数和FPGA单元初始化参数。主控单元上述待测显示模组的初始化参数确定待测显示模组所需的驱动电压大小,并控制电源单元为待测显示模组提供驱动电压大小所对应的驱动电压以使能待测显示模组。主控单元根据上述FPGA单元初始化参数初始化FPGA单元。FPGA单元获取测试图像,并将测试图像输出至待测显示模组。光学检测单元检测待测显示模组在显示测试图像时的光学性能参数。主控单元通过上述光学性能参数确定待测显示模组的性能状态。该系统可增加显示模组测试系统测试功能的多样性和使用的灵活性,提高显示模组的测试效率。
搜索关键词: 显示 模组 测试 方法 装置
【主权项】:
一种显示模组的测试系统,其特征在于,包括:主控单元、现场可编程门阵列FPGA单元、待测显示模组、电源单元、用户界面UI管理单元以及光学检测单元;所述主控单元的一端与所述UI管理单元的一端相连接,所述UI管理单元的另一端与所述光学检测单元的一端相连接,所述光学检测单元的另一端与所述待测显示模组的一端相连接,所述待测显示模组的另一端与所述电源单元的一端相连接,所述电源单元的另一端与所述主控单元的一端相连接,所述FPGA单元一的端与所述主控单元的一端相连接,所述FPGA单元的另一端与所述待测显示模组的一端相连接;所述UI管理单元获取待测显示模组的初始化参数和所述FPGA单元初始化参数;所述主控单元根据所述UI管理单元获取的所述待测显示模组的初始化参数确定所述待测显示模组所需的驱动电压大小,并控制所述电源单元为所述待测显示模组提供所述驱动电压大小所对应的驱动电压以使能所述待测显示模组;所述主控单元根据所述UI管理单元获取的所述FPGA单元初始化参数初始化所述FPGA单元;所述FPGA单元获取测试图像,并将所述测试图像输出至所述待测显示模组;所述光学检测单元检测所述待测显示模组在显示所述测试图像时的光学性能参数;所述主控单元通过所述光学检测单元获取的所述光学性能参数确定所述待测显示模组的性能状态。
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