[发明专利]指纹芯片电性能测试装置有效

专利信息
申请号: 201711072473.2 申请日: 2017-11-03
公开(公告)号: CN108051727B 公开(公告)日: 2020-03-03
发明(设计)人: 韩笑;陈思乡;姜传力;翁水才;鲍军其;谢周阳;刘治震;章华荣 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 310000 浙江省杭州市滨江区江淑*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明的目的是提供一种指纹芯片电性能测试装置。一种指纹芯片电性能测试装置,包括:测试系统,上料系统,收料系统;上料系统包括:设有两个送盘输送带的分盘输送装置,若干个设于两个送盘输送带之间且前后排列的料盘定位装置,设有位于第一个料盘定位装置上方的机器视觉系统的指纹芯片标识号识别装置,设有位于最后一个料盘定位装置上方的吸附机构的收料系统;测试系统包括:两个对称设置且位于分盘输送装置一侧外侧的测试装置,设有位于测试装置和其余料盘定位装置上方的吸附装置的取料装置。所述的指纹芯片电性能测试装置能自动上料、转位输送,测试效率较高。
搜索关键词: 指纹 芯片 性能 测试 装置
【主权项】:
1.一种指纹芯片电性能测试装置,包括:测试系统;其特征是,所述的指纹芯片电性能测试装置还包括:上料系统,收料系统;上料系统包括:设有两个送盘输送带的分盘输送装置,若干个设于两个送盘输送带之间且前后排列的料盘定位装置,设有位于第一个料盘定位装置上方的机器视觉系统的指纹芯片标识号识别装置,设有位于最后一个料盘定位装置上方的吸附机构的收料系统;测试系统包括:两个对称设置且位于分盘输送装置一侧外侧的测试装置,设有位于测试装置和其余料盘定位装置上方的吸附装置的取料装置。
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