[发明专利]基于阿贝原则的精密测量教学仪器有效
| 申请号： | 201711044522.1 | 申请日： | 2017-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN107655410B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 樊宏;胡鹏浩;胡毅;于长伟 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G09B25/00 |
| 代理公司： | 合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142 | 代理人： | 钱卫佳 |
| 地址： | 230000 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及教学器具领域，具体涉及一种基于阿贝原则的精密测量教学仪器，包括基座，所述基座上设有X向导轨，X向导轨上安装有沿其滑动的X向滑块，X向滑块上安装有第一读数头和第二读数头，基座台面上对称的设有第一光栅尺、第二光栅尺，第二光栅尺安装在Y向导轨上并能沿着Y向导轨滑动。本发明本发明充分体现和验证了经典阿贝误差、瞄准臂误差和导向面误差，为学生对阿贝原则的特点和性质的充分理解提供了有效帮助。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 原则 精密 测量 教学 仪器 | ||
【主权项】：
一种基于阿贝原则的精密测量教学仪器，包括基座，其特征在于，所述基座上安装有距离基座台面具有高度的X向导轨，X向导轨上安装有沿其滑动的X向滑块，X向滑块上安装有距离基座台面具有高度的第一读数头和第二读数头，基座台面上设有分别供第一读数头和第二读数头进行读数的第一光栅尺、第二光栅尺，所述第二光栅尺安装在垂直于X向导轨所在竖直面的Y向导轨上并能沿着Y向导轨滑动。
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