[发明专利]基于阿贝原则的精密测量教学仪器有效
| 申请号： | 201711044522.1 | 申请日： | 2017-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN107655410B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 樊宏;胡鹏浩;胡毅;于长伟 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G09B25/00 |
| 代理公司： | 合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142 | 代理人： | 钱卫佳 |
| 地址： | 230000 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 原则 精密 测量 教学 仪器 | ||
【权利要求书】：
1.一种基于阿贝原则的精密测量教学仪器，包括基座，其特征在于，所述基座上安装有距离基座台面具有高度的X向导轨，X向导轨上安装有沿其滑动的X向滑块，X向滑块上安装有距离基座台面具有高度的第一读数头和第二读数头，基座台面上设有分别供第一读数头和第二读数头进行读数的第一光栅尺、第二光栅尺，所述第二光栅尺安装在垂直于X向导轨所在竖直面的Y向导轨上并能沿着Y向导轨滑动；
第一读数头和第二读数头通过夹具安装到X向滑块，夹具上安装有读数头导轨，第二读数头安装在读数头导轨上并能沿着读数头导轨滑动，使其在Y方向上有一小范围调整；
所述X向导轨平行于基座长度方向。
2.根据权利要求1所述的基于阿贝原则的精密测量教学仪器，其特征在于，所述Y向导轨为两个平行导轨构成。
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