[发明专利]一种芯片进入测试模式的控制方法及系统在审
| 申请号： | 201710959458.3 | 申请日： | 2017-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN107783028A | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 张超;肖佐楠;郑茳;匡启和 | 申请（专利权）人： | 苏州国芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06F21/31 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 215011 江苏省苏州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种芯片进入测试模式的控制方法，所述方法包括当接收到通过复用功能端口输入的用户密码，判断所述用户密码是否正确；若是，则接收通过所述复用功能端口输入的模式编码，根据所述模式编码进入相对应的测试模式并将XRSTN端口置位为0；若否，则重新接收所述用户密码；该方法能够避免客户在拿到芯片之后轻易进入测试模式而导致芯片功能产生错误；本申请还公开了一种芯片进入测试模式的控制系统、一种计算机可读存储介质及终端，具有以上有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 进入 测试 模式 控制 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片进入测试模式的控制方法，其特征在于，包括：当接收到通过复用功能端口输入的用户密码，判断所述用户密码是否正确；若是，则接收通过所述复用功能端口输入的模式编码，根据所述模式编码进入相对应的测试模式并将XRSTN端口置位为0；若否，则重新接收所述用户密码。
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