[发明专利]一种测量产品EMC问题具体位置的方法在审
| 申请号： | 201710890909.2 | 申请日： | 2017-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN107703386A | 公开（公告）日： | 2018-02-16 |
| 发明（设计）人： | 李斌;李建生 | 申请（专利权）人： | 深圳市科卫泰实业发展有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518126 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量产品EMC问题超标具体位置的方法，该方法利用微型化天线探头接收EMC辐射源信号，经过前置放大器放大后，输入频谱仪，通过频谱仪显示天线探头测得辐射源信号的强度大小，并通过不断移动天线探头的位置，观察频谱仪显示的信号强度大小，信号强度最大的位置即为EMC辐射源的位置。本发明通过定位定点的确认EMC超标位置，极大地放便找到产品EMC问题的源头。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 产品 emc 问题 具体位置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量产品EMC问题具体位置的方法，其特征在于，包括步骤：S1、使用现有暗室EMC测试方法，测量产品的辐射骚扰场强图，并记录超过EMC标准的辐射骚扰场强图的频率或频段；S2、使用灵敏度较高的微型天线，测试产品各个部位的EMC，并记录哪些部位的EMC符合步骤S1测得的超标频率或频段，以此来确认引起EMC超标的大概部位位置；S3、使用灵敏度低的微型天线，测试步骤S2测得超标部位的EMC，通过对比测得的辐射骚扰场强值得大小，确定EMC超标频段的主要辐射源。
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